新發布的Vanta Element-S分析儀采用了硅漂移探測器（SDD），除了對于不銹鋼、銅合金、鋁合金等常見合金型號快速辨別能力外，也滿足了合金中一些輕元素（鎂、鋁和硅等）的檢測需求。同時，該款分析儀也將涵蓋土壤重金屬分析、RoHS快速篩查、汽車催化劑檢測等一系列高端應用的需求。
易諾科技作為奧林巴斯XRF/XRD產品的中國區授權一級代理商和環境/土壤應用的中國代理商，將同步引進Vanta Element-S分析儀。欲了解更多奧林巴斯新品訊息，敬請關注我們的微信公眾號或致電0755-29016522。
在工業制造過程中，常常需要在質量控制過程中對材料進行檢查，以及對合金、金屬材料進行分揀，手持式X射線熒光（XRF）分析儀是完成廢料回收、基本PMI（材料成分辨別）、金屬制造和貴金屬識別等應用的理想工具。
2020年5月26日，奧林巴斯發布了Vanta Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀，除具備了Vanta系列分析儀檢測迅速、結果可靠、堅固耐用、連通性好等特性外，其操作便捷性更是堪比智能手機，可選配的無線連通性能讓用戶在使用過程中感受到了智能制造的強大威力。
奧林巴斯Vanta Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀在對材料進行分揀的過程中，龐大的數據量以及雜亂的材料常常導致檢測的開展十分緩慢。Vanta Element-S分析儀配備有硅漂移探測器（SDD），可對元素進行分析，并在幾秒內對合金進行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。完成對樣品的檢測之后，屏幕上會顯示出清晰的牌號ID，以及鎂、鋁和硅等輕元素的比較信息。同時，分析儀的SDD探測器可以區分類似303和304不銹鋼、6061和1100鋁等相似的合金牌號，精準完成識別。鑒于金屬檢測、材料分揀等工作常常需要在較為惡劣的環境下開展，潮濕、灰塵會對儀器的性能產生較大影響。Vanta Element-S分析儀通過了IP54評級標準，具備防塵和防潮特性，而且通過了從1.2米（4英尺）高處墜落的測試（MIL-STD-810G），不會因偶爾掉落或推擠而損壞，可在–10°C到45°C的溫度范圍內無壓力持續運行24小時。為了方便進行野外作業，Vanta Element-S分析儀配備了不銹鋼面板和帶有Kapton（聚酰亞胺）網格背襯的Prolene（聚丙烯紡織纖維）窗口。野外作業過程中需要更換窗口時，無需使用工具即可輕松揭下舊窗口，貼上新窗口。同時，分析儀體型小巧，僅重1.32公斤，方便攜帶，操作便攜性堪比智能手機，大大提升了操作人員的工作效率。Vanta Element-S分析儀由奧林巴斯成熟的Axon?技術驅動，具有與Vanta系列其他分析儀相同的高計數率和穩定性，可使用戶迅速獲得檢測結果和投資回報。除具備了Vanta系列分析儀檢測迅速、結果可靠、堅固耐用、連通性好等基本特性，可選配的無線連通性能使Vanta Element-S分析儀順應了工業4.0的變革潮流，走向智能化。分析儀可通過可選配的無線連通性能直接與奧林巴斯科學云系統連接，進行無線數據共享，并能夠訪問便捷的多設備管理工具、奧林巴斯鏈接移動應用程序或用戶的網絡。同時，分析儀還提供了1個用于存儲檢測結果的1 GB容量的MicroSD卡，以及兩個便于導出數據的USB端口，便于用戶管理海量數據。為了提高操作的靈活性，Vanta Element-S分析儀可與多種配件相兼容，其中包括Vanta野外臺座、土壤支架、探頭護罩和機套。
