在購買手持式XRF分析儀時(shí)，確定需要硅漂移探測(cè)器（SDD）還是PIN探測(cè)器是您需要做出的首要選擇之一。
奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測(cè)器：Vanta Element分析儀裝配有PIN探測(cè)器，而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測(cè)器。
硅漂移檢測(cè)器（SDD）是一種較新的技術(shù)，其每秒鐘的X射線計(jì)數(shù)率比PIN探測(cè)器大約多10倍。SDD探測(cè)器的分辨率也比PIN探測(cè)器大約低40 eV。不過，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。在確定哪種探測(cè)器更適合您的時(shí)候，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個(gè)重要的問題：1、您是否需要測(cè)量一些輕元素，如：鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）或鈣（Ca）?這些較輕元素的定量性檢測(cè)只能由裝配有SDD探測(cè)器的分析儀完成。許多人因此錯(cuò)誤地認(rèn)為不能使用裝配了PIN探測(cè)器的分析儀對(duì)鋁合金進(jìn)行分揀。但是，配備了PIN探測(cè)器的分析儀可以基于較重元素（如：銅、鉻或鐵）的含量對(duì)許多鋁合金牌號(hào)進(jìn)行分揀。當(dāng)然要進(jìn)行更細(xì)微的區(qū)分，如：鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，需要使用配備了SDD探測(cè)器的分析儀。
2、您是否需要較低的檢出限？
SDD探測(cè)器的檢出限（LOD）通常比PIN探測(cè)器低約3倍。SDD探測(cè)器也比PIN探測(cè)器的計(jì)數(shù)率高，因此具有更高的精密度和靈敏度。
哪種分析儀更適合您？
我們希望上面的問題已經(jīng)幫助您確定了使用哪種探測(cè)器，這意味著您向購買一款合適分析儀的目標(biāo)又邁近了一步。如果您需要SDD探測(cè)器，那么您可能需要詳細(xì)了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀，這款價(jià)格實(shí)惠的分析儀可以探測(cè)輕元素，并對(duì)合金進(jìn)行辨別。這款分析儀可以在幾秒鐘之內(nèi)快速、精確地辨別鎂（Mg）、鋁（Al）和硅（Si）元素。分析儀的SDD探測(cè)器還可以區(qū)分相似的合金牌號(hào)，如：303和304不銹鋼，6061和1100鋁，以及6063和1100鋁。這款分析儀可以有效地測(cè)量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量，是完成廢料回收、基本PMI（材料成分辨別）、金屬制造和貴金屬識(shí)別等應(yīng)用的理想工具。
如果您需要PIN探測(cè)器，那么請(qǐng)您仔細(xì)了解一下我們的初級(jí)Vanta Element分析儀，這款價(jià)格實(shí)惠的分析儀可以對(duì)合金進(jìn)行辨別。
無論您選擇哪款分析儀，您都可以放心使用，因?yàn)閮煽罘治鰞x都具有使Vanta系列分析儀聲名遠(yuǎn)揚(yáng)的基本特性：檢測(cè)迅速，結(jié)果可靠，堅(jiān)固耐用，連通性好，而且其操作便捷性堪比智能手機(jī)。兩款分析儀都具有以下優(yōu)勢(shì)特性：
符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵、防潮的特性。
通過了墜落測(cè)試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了對(duì)分析儀進(jìn)行高成本維修的需求。
Axon技術(shù)有助于迅速可靠地完成檢測(cè)。
借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng) ，可以實(shí)現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。
